DZ 0039.1-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 總則
DZ 0039.10-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 低氣壓試驗(yàn)
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓
GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

低氣壓試驗(yàn)是以往傳統(tǒng)電力系統(tǒng)二次設(shè)備型式檢驗(yàn)中容易被忽視的環(huán)節(jié)之一，通常有低溫低氣壓和高溫低氣壓兩種方式，在海拔3000m（70kPa）的地帶，主要出現(xiàn)的是低溫環(huán)境，故采用低溫低氣壓試驗(yàn)考察設(shè)備對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)能力。
地質(zhì)儀器低氣壓試驗(yàn)?zāi)康脑谟诖_定其在常溫低氣壓環(huán)境條件下使用、運(yùn)輸和貯存的適應(yīng)性及密封的完好性。健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低氣壓試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低氣壓試驗(yàn)服務(wù)。

1、試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)溫度為正常大氣條件下的溫度。
2、將受試產(chǎn)品在不包裝，按正常工作位置放入試驗(yàn)箱中，接通受試產(chǎn)品電源，使之處于準(zhǔn)備工作狀態(tài)。
3、試驗(yàn)箱壓力降到規(guī)定的試驗(yàn)壓力值，在此保持2h。
4、檢查受試產(chǎn)品工作是否正常。
5、向試驗(yàn)箱內(nèi)充入室溫的空氣，使箱內(nèi)氣壓與試驗(yàn)室大氣壓力相平行。
6、把受試產(chǎn)品取出箱外，在正常大氣條件下放置1h。
7、按受試產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)（技術(shù)條件）規(guī)定，對(duì)做過(guò)低氣壓試驗(yàn)的產(chǎn)品進(jìn)行外觀檢查，受試產(chǎn)品不應(yīng)出現(xiàn)漆膜起泡、皺皮、剝落、非金屬件變形，以及密封結(jié)構(gòu)件的破壞，漏氣、漏液等損傷，對(duì)受試產(chǎn)品進(jìn)行電氣性能及機(jī)械性能的檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)（技術(shù)條件）規(guī)定。